- 阻抗分析儀
- 頻率特性分析儀
- 露點(diǎn)儀
- 顯微鏡
- 光伏測(cè)試儀
- 存儲(chǔ)記錄儀
- 功率計(jì)
- 微歐計(jì)
- 電氣安裝測(cè)試儀
- LCR測(cè)試儀
- 耐壓絕緣測(cè)試儀
- 接地電阻測(cè)試儀
- 電池測(cè)試儀
- 泄漏電流測(cè)試儀
- 數(shù)字兆歐表
- 多功能測(cè)試儀
- 萬用表
- 鉗形表
- 示波器
- 信號(hào)源
- 頻譜分析儀
- 直流電源
- 相序表
- 硬度計(jì)
- 超聲波測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 電火花檢測(cè)儀
- 粗糙度儀
- 附著力測(cè)試儀
- 光澤度儀
- 測(cè)振儀
- 張力儀
- 推拉力計(jì)
- 扭力測(cè)試儀
- 超聲波探傷儀
- 頻閃儀
- 紅外熱像儀
- 紅外測(cè)溫儀
- 溫濕度計(jì)
- 照度計(jì)
- 噪音計(jì)
- 風(fēng)速儀
- 氣體檢測(cè)儀
- 煙氣分析儀
- 粒子計(jì)數(shù)器
- 差壓儀
- 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀
- 電纜測(cè)試儀
- 電子天平
- 轉(zhuǎn)速表
- 過程校驗(yàn)儀
- 激光測(cè)距儀
- 酸度計(jì)
- 電導(dǎo)率儀
- 粘度計(jì)
- 化學(xué)分析儀器
- 便攜式濁度儀
- 水份儀
- 高斯計(jì)
- 電力質(zhì)量分析儀
德國EPK涂層測(cè)厚儀-MINITEST 720/730/740**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性 。測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用。
德國EPK涂層測(cè)厚儀-MINITEST 720/730/740 產(chǎn)品介紹
**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性
測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽:
SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加**
可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高**度的特征曲線
大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
菜單指引操作,25種語言可選
帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置:
帶塑料手提箱,內(nèi)含:
MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
或MINITEST 730(外置探頭)
或MINITEST740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選)
校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
2節(jié)AA電池
推薦配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架
德國EPK涂層測(cè)厚儀-MINITEST 720/730/740
型號(hào) 特性 |
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 |
多10,000個(gè) |
多10,000個(gè) |
多100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 |
讀值個(gè)數(shù),小值,大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) |
||
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 |
ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
||
校準(zhǔn)模式 |
出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
||
極限值監(jiān)控 |
聲、光報(bào)警提示超過極限 |
||
測(cè)量單位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
||
操作溫度 |
-10℃-60℃ |
||
存放溫度 |
-20℃-70℃ |
||
數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0(紅外接口) |
||
電源 |
2節(jié)AA電池 |
||
標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
||
體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
||
重量 |
約175g |
約210g |
約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
型號(hào) 特性 |
MINITEST 720
|
MINITEST 730
|
MINITEST 740
|
探頭類型
|
內(nèi)置
|
外置
|
內(nèi)置外置可換
|
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
|
10
|
10
|
100
|
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量
|
多10,000個(gè)
|
多10,000個(gè)
|
多100,000個(gè)
|
統(tǒng)計(jì)值
|
讀值個(gè)數(shù),小值,大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
|
||
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
|
ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
|
||
校準(zhǔn)模式
|
出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
|
||
極限值監(jiān)控
|
聲、光報(bào)警提示超過極限
|
||
測(cè)量單位
|
um,mm,cm;mils,inch,thou
|
||
操作溫度
|
-10℃-60℃
|
||
存放溫度
|
-20℃-70℃
|
||
數(shù)據(jù)接口
|
IrDA 1.0(紅外接口)
|
||
電源
|
2節(jié)AA電池
|
||
標(biāo)準(zhǔn)
|
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 |
||
體積
|
157mm x 75.5mm x 49mm
|
||
重量
|
約175g
|
約210g
|
約175g(內(nèi)置)/230g(外置)
|
型號(hào) 特性 |
MINITEST 720
|
MINITEST 730
|
MINITEST 740
|
探頭類型
|
內(nèi)置
|
外置
|
內(nèi)置外置可換
|
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
|
10
|
10
|
100
|
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量
|
多10,000個(gè)
|
多10,000個(gè)
|
多100,000個(gè)
|
統(tǒng)計(jì)值
|
讀值個(gè)數(shù),小值,大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
|
||
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
|
ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
|
||
校準(zhǔn)模式
|
出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
|
||
極限值監(jiān)控
|
聲、光報(bào)警提示超過極限
|
||
測(cè)量單位
|
um,mm,cm;mils,inch,thou
|
||
操作溫度
|
-10℃-60℃
|
||
存放溫度
|
-20℃-70℃
|
||
數(shù)據(jù)接口
|
IrDA 1.0(紅外接口)
|
||
電源
|
2節(jié)AA電池
|
||
標(biāo)準(zhǔn)
|
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 |
||
體積
|
157mm x 75.5mm x 49mm
|
||
重量
|
約175g
|
約210g
|
約175g(內(nèi)置)/230g(外置)
|
德國EPK涂層測(cè)厚儀-MINITEST 720/730/740 可選探頭:
探頭 特性 |
F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 |
F2 |
F5,N2.5,F(xiàn)N5 |
F15 |
||
F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
測(cè)量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
使用范圍 |
小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 |
厚涂層 |
||
測(cè)量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 |
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) |
|||||
**度 |
±(1μm+0.75%讀值) |
±(1.5μm+0.75%讀值) |
±(5μm+0.75%讀值) |
|||
重復(fù)性 |
±(0.5μm+0.5%讀值) |
±(0.8μm+0.5%讀值) |
±(2.5μm+0.5%讀值) |
|||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
|||
小曲率半徑(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
|||
小曲率半徑(凹,外置探頭) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) |
30mm |
30mm |
30mm |
|||
小測(cè)量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
|||
小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 |
每秒20個(gè)讀數(shù) |
|||||
單值模式下大測(cè)量速度 |
每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
探頭 特性 |
F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5
|
F2
|
F5,N2.5,F(xiàn)N5
|
F15
|
||
F
|
N
|
F
|
F
|
N
|
F
|
|
測(cè)量范圍
|
0-1.5mm
|
0-0.7mm
|
0-2mm
|
0-5mm
|
0-2.5mm
|
0-15mm
|
使用范圍
|
小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用
|
粗糙表面
|
標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛
|
厚涂層
|
||
測(cè)量原理
|
磁感應(yīng)
|
電渦流
|
磁感應(yīng)
|
磁感應(yīng)
|
電渦流
|
磁感應(yīng)
|
信號(hào)處理
|
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
|
|||||
**度
|
±(1μm+0.75%讀值)
|
±(1.5μm+0.75%讀值)
|
±(5μm+0.75%讀值)
|
|||
重復(fù)性
|
±(0.5μm+0.5%讀值)
|
±(0.8μm+0.5%讀值)
|
±(2.5μm+0.5%讀值)
|
|||
低端分辨率
|
0.05μm
|
0.1μm
|
1μm
|
|||
小曲率半徑(凸)
|
1.0mm
|
1.5mm
|
5mm
|
|||
小曲率半徑(凹,外置探頭)
|
7.5mm
|
10mm
|
25mm
|
|||
小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)
|
30mm
|
30mm
|
30mm
|
|||
小測(cè)量面積
|
Φ5mm
|
Φ10mm
|
Φ25mm
|
|||
小基體厚度
|
0.3mm
|
40μm
|
0.5mm
|
0.5mm
|
40μm
|
1mm
|
連續(xù)模式下測(cè)量速度
|
每秒20個(gè)讀數(shù)
|
|||||
單值模式下大測(cè)量速度
|
每分鐘70個(gè)讀數(shù)
|